西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室（天线所）

Gradient Index Lens Using Perforated Dielectric1

日期：2023-09-14 22:43 点击量：

题   目：Gradient Index Lens Using Perforated Dielectric

报告人：陈强

时   间：2023-08-07 15:30

地   点：北校区科技楼1007会议室

原文链接：https://amt.xidian.edu.cn/html/communication/exchange/666.html


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